一般T型槽裝配平臺除了檢查表面粗糙度外，其余項目都可以靠工藝，不再進行檢查。對于重要的T型槽裝配平臺，則根據需要決定檢查的項目。破壞性的檢查T型槽裝配平板/臺的方法只能用于抽驗或者驗證工藝的合理性。T型槽裝配平臺表面質量的檢查項目和評定方法有以下。

一、    T型槽裝配平臺粗糙度

用輪廓檢查儀、顯微鏡或者干涉顯微鏡等測定T型槽裝配平臺表面粗糙度，按標準進行評定。T型槽裝配平臺表面的劃痕、坑點等問題依靠目測檢查，大量生產中已開始采用光電檢查儀器代替目測檢查儀器檢查T型槽裝配平臺的表面問題。

二、    T型槽裝配平臺的裂紋等微觀問題

可用以下方法和顯微鏡配合進行檢查，大量生產中可用自動光學掃描儀代替目測檢驗。

1、 磁粉探傷法：將T型槽裝配平臺磁化后，在裂紋問題處就會產生漏磁場，當澆上磁鐵粉懸浮液后，鐵粉即沿著T型槽裝配平臺問題所形成的的磁力分布，此檢查方法，能的顯示T型槽裝配平臺表面的細小裂紋和表面下的裂紋。

2、 熒光或者著色檢驗法：利用熒光劑或者有色液體的滲透作用顯示出T型槽裝配平臺的裂紋，主要用于不用磁化的材料的探傷。

3、 酸性檢查：裂紋等問題等腐蝕后可提高清晰度。

（1） T型槽裝配平臺表面顯微硬度變化：用維式硬度計測定。若要測得T型槽裝配平臺表面層的硬度分布，可將T型槽裝配平臺加工出2-3度的斜面，即可將T型槽裝配平臺表面層厚度h放大25倍左右。

（2） T型槽裝配平臺殘余內應力測定。

1) 酸腐蝕法：T型槽裝配平臺又較大的拉應力時，經酸性復試后即出現裂紋，可產中很方便地使用。

2) 逐層去除法：可以測定T型槽裝配平臺表面層的應力分布。該方法是靠電介質腐蝕逐層去除表面層，因為內應力重新平衡引起零件的變形，測其變形量即可計算出殘余內應力值。

3) X射線衍射法：用X射線可測得原子間距的變化。當T型槽裝配平臺存在殘余內應力時，進出的原子間距發生變化。間距大于正常組織時為拉應力，反之為壓應力。此法可測定T型槽裝配平臺表面殘余內應力。當需要測定T型槽裝配平臺表面應力分布時，應于逐層去除后測定。由于此法效率甚低，難于在生產中直接使用，已發展了快 速X射線衍射儀，可以在幾分鐘之內確定殘余內應力值。http://www.chinaweiyue.com/

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